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新闻

Applus+ Laboratories已可进行最新的非接触式终端EMV L1 3.0的测试

20/11/2018
在2019年初新版本成为正式测试的强制要求之前,现在我们已可为终端供应商新版本的产品进行调试测试。
Applus+ Laboratories现已准备好根据非接触式设备的新EMV L1 3.0测试规范进行终端评估(QA)测试。客户和支付终端制造商可以准备其产品新版本的EMV L1 PCD认证,然后在2019年年初标准强制更新时轻松通过认证测试。新的EMV 3.0测试规范包括模拟和数字测试,您可随时联系Applus+ 以评估其非接触式读卡器的性能。 
EMV L1 CLESS(PCD)3.0测试规范引入了终端评估和认证的主要变化。主要更新总结如下:
  • 不再只使用一个PICC(接近式集成电路卡),新版本3.0测试将使用三种不同的PICC进行测试,这些PICC具有不同的天线设计,谐振频率和线性负载值。
  • · 对这三个PICC修改线性负载的波形测试案例进行了测试。
  • 敏感测试案例是针对这三个PICC的非线性负载进行测试的。
Applus+ Laboratories使用法拉第室消除电磁噪声来改进测试环境,以获得终端信号的洁净测量。除了此更新之外,EMV已宣布的另一项变更是,自2019年1月1日起,交互性测试将成为EMV L1 PCD正式测试的一部分。 Applus+ Laboratories也准备在此测试的激活时间进行交互性测试。
 
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